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    相位差、雙折射、內應力測量設備

    點擊次數:1895 發布時間:2018/6/4
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               北京91香蕉视频下载污科技代理的日本PHL公司的雙折射測量設備,是由日本東北大學電器研究室與井上研究室共同開發的光子晶體技術,進而轉化出來的對透明鍵產品內部應力測量的一款設備,利用光子晶體與CCD相機的結合,產生的偏光感應器,可以在3秒的時間得到被測樣品整個麵的內部應力的分布的情況。

     
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